HORIBA UVISEL 2研究级全自动椭偏仪

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HORIBA UVISEL 2研究级全自动椭偏仪

20多年技术积累和发展的结晶,UVISEL是一款高准确性、高灵敏度、高稳定性的经典椭偏机型。即使在透明的基底上也能对超薄膜进行最精确的测量。采用PEM相位调制技术,与机械旋转部件技术相比,能提供更好的稳定性和信噪比。


产品特点:
50KHz 高频PEM 相调制技术,测量光路中无运动部件
具备超薄膜所需的测量精度,超厚膜所需的高光谱分辨率
具有毫秒级超快动态采集模式,可用于在线实时监测
自动平台样品扫描成像、变温台、电化学反应池、液体池、密封池等多种附件
配置灵活


技术参数:
可选光谱范围:
UVISEL Extended Range(190nm -2100 nm)
UVISEL NIR (250 nm -2100 nm )
UVISEL VIS (210 nm -880 nm )
UVISEL FUV(190 nm -880 nm )
UVISEL VUV(142 nm -880 nm )
多种实用微光斑尺寸选项
探测器:分别针对紫外,可见和近红外提供优化的PMT和IGA探测器
自动样品台尺寸:多种样品台可选
自动量角器:变角范围35°- 90°,全自动调整,最小步长0.01°


椭偏仪原理图

柔性基底a-C薄膜

 

Graphene光学常数